Photon RT紫外-可見-中波紅外膜層透反儀 產品優點 寬光譜測量:紫外(185nm)到中波紅外(5200nm)波段實現變角度和偏振態測量 標定:一鍵標定,測量透過率/反射率過程中光的入射角度改變時,無需進行基線再校準 步進精度:樣品臺和光電探測器配備的高精度旋轉驅動,其步進角度為0.01° 可自動進行探測器橫向位置補償(±50mm),用于進行厚樣品的軸外透過率測試以及復雜棱鏡的透過率、反射率測試 內置氮氣吹掃管道 色坐標計算(CIE 1931,CIE 1964,及其它光源) 可選配批量測試或位置可調夾具 可對單層均質膜進行NKD計算 變角度測試及位移補償 探測器橫向補償范圍可達±50mm,平面樣品可使用軟件自帶的計算功能計算位置偏差 多功能夾具 可選波段范圍 1.185-1700 2.380-1700 3.185-3500 4.380-3500 5.380-3500 6.185-5200 Photon rt紅外光源與鹵素燈基線對比 紅外光源與鹵素燈測試曲線對比(鋁膜) 紅外光源與鹵素燈測試曲線對比(寬帶濾光片) 內置高對比度寬帶起偏器 配置: 380-2200nm 220-2200nm 2000-5200nm(獨家) 380-5200nm(獨家) 起偏器出廠前已內置于設備, 可通過軟件控制 多角度測量及定性和定量的膜層分析 LINZA150鏡片/鏡頭組測試分光光度計 產品功能與特點 可對單鏡片(凹/凸)進行快速軸上透過率測試 可對鏡頭組進行快速的軸上測試 可對凸/凹面鏡的任意區域進行無人值守的軸上/軸外反射率測試 不需任何配件 產品特性 測量鏡頭最大/小孔徑 透射:10-150mm 反射:10-90mm 反射率測試樣品曲率半徑范圍:15mm-∞ 透過率測試樣品焦距范圍:20 mm-∞ 透過率測試最大鏡頭尺寸:240 mm(L)×150mm(⌀) 離軸最大測量反射轉角:55° 有效波長范圍,nm:380-1700 nm,185-1700 nm, AKRA單波長光控設備 為監控鍍膜沉積過程設計 光譜范圍200-5000nm IRIS寬波段光控設備 光譜范圍190-2450nm 該產品電話和微信咨詢方式: 15172359028(微信同號) |





|手機版|搜索|焦點光學|光電工程師社區
( 鄂ICP備17021725號-1 鄂網安備42011102000821號 )
Copyright 2015 光電工程師社區 版權所有 All Rights Reserved.
申明:本站為非盈利性公益個人網站,已關閉注冊功能,本站所有內容均為網絡收集整理,不代表本站立場。如您對某些內容有質疑或不快,請及時聯系我們處理!
© 2001-2022 光電工程師社區 網站備案號:鄂ICP備17021725號 網站公安備案號:鄂42011102000821號 Powered by Discuz! X3.2
GMT+8, 2025-12-7 21:28